隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT(HAST)，現在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC(國際電工委員會)所標準化。

　　

一、PCT高壓加速壽命試驗機廠家的安全保護裝置：

　　1、操作安全裝置：鍋門若未關緊則機器無法啟動；

　　2、超壓安全保護：當鍋內壓力超過zui大工作值自動排氣泄壓；

　　3、超溫保護：當鍋內溫度過高時機器鳴叫警報并自動切斷加熱電源；

　　4、防燙傷保護：特制材質制成可防止操作人員接觸燙傷；

　　5、PCT高壓加速試驗箱手動安全保護排壓伐；

　　

二、設備特點：

　　1、進口“SHIMAX”LED雙數顯自能溫控器,誤差±0.1℃，或根據試驗需要可采用真彩觸摸屏控制器；

　　2、新優(yōu)化設計,美觀大方,做工細節(jié)優(yōu)良；

　　3、大容量水箱,試驗時間長,全自動補水,試驗不中斷；

　　4、PCT高壓加速試驗箱采用進口品牌配件,整機2年保修；

　　5、PCT高壓加速試驗箱電路整合設計,操作簡單,維護方便；

　　6、一體成型硅膠門墊圈,氣密度良好,且使用壽命長。

　　

三、pct高壓加速壽命試驗機試驗箱規(guī)范要求：

　　1、配備雙層不銹鋼產品架,也可根據客戶產品規(guī)格尺寸量身定制專用產品架。

　　2、箱內膽采用圓弧設計,復合安全容器標準,可以防止試驗結露滴水現象，從而避免產品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結果。